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短波紅外成像應用-缺陷檢測

發表時間(jian):2021-12-31 15:46

光具有一(yi)定(ding)的穿透性。在某些半導體行業中,就可(ke)以用(yong)紅外光較 好的穿(chuan)透性(xing),去觀測物體內部結構。例如,生產IC電路的公司,可以 用近紅外光(guang)去照射IC電路表面,光線可以穿(chuan)過表面,進入IC電路內(nei)部, IC電路(lu)內部(bu)反(fan)射回的光,用(yong)近紅(hong)外相機去觀測,就可以(yi)看到內部(bu)是否 有裂痕、空(kong)鼓等。


產品特點:

寬波段0.4um-1.7um

超高靈敏度

無損RAW格式

科學級制冷


效果展示:


缺陷檢測.png

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